تطبيق تدقيق ريتفيلد (rietveld) على مخطط انعراج الأشعة السينية لمسحوق (بآثار السيليكا) عند زوايا صغيرة
Résumé: Il est connu que la diffraction des rayons X à travers les matériaux verriers prend la forme d'un large halo, contrairement aux matériaux cristallins qui prennent le motif de pics distinctifs, en étudiant la diffraction aux petits angles (SAXS) pour les matériaux amorphes/verre, nous pouvons recueillir beaucoup d'informations importantes sur leur structure et leurs propriétés physiques. L'intérêt pour cette technologie a augmenté de nos jours étant donné la tendance récente de la nanoscience et de son développement, et considérée comme une technique importante dans la recherche et l'étude des nanostructures. De ce point de vue, nous avons essayé dans ce travail d'étudier les propriétés structurales d'un échantillon de motif expérimental ( effets de la silice) en exploitant la diffraction des rayons X
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