Elaboration Et Caractérisation Des Couches Minces À Base D’oxyde De Zinc (zno) Pour Des Applications En Optoélectronique
Résumé: Résumé : des couches minces ZnO , ZnO-Ag, ZnO-Mg et ZnO- Ag-Mg ont été réalisées par évaporation thermique sous vide pour les applications dans le domaine de l’optoélectronique . Il a été trouvé que le ZnO se cristallise avec une structure hexagonale wurtzite après un recuit à 400°C, tandis que l’Ag montre des pics pour les deux couches ZnO-Ag et ZnOAg-Mg avec une direction préférentielle (111). Cependant à noter l’absence des pics AgO, Mg et MgO. On a aussi constaté que le facteur de transmission varie dans la gamme (74-88)% dans l'intervalle (300-800 nm), qui correspond au domaine visible. Ainsi qu’après le recuit toutes les couches prennent un comportement électrique (résistances) des semiconducteurs. Mots clés : couches minces, ZnO, ZnO-Ag, ZnO-Mg, ZnO-Ag-Mg, évaporation thermique, semi-conducteurs.
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