Elaboration Et Réalisation Des Couches Antireflets Par Voie Physique
Résumé: Dans le présent travail, nous nous sommes intéressés à la réalisation et la caractérisation de films minces à base de ZnS déposés sur un substrat de verre par évaporation thermique à partir de cristaux millimétriques de ZnS. Les propriétés structurales, de composition et optiques des films ont été étudiées par la diffraction des rayons X, la microscopie à balayage (MEB) et la spectroscopie UV-VIS. Les résultats obtenus montrent que les films sont dépourvus de trous et ont une structure cubique de zinc blend avec comme orientation préférentielle(111). La bande interdite estimée est de 3,5 eV et l'indice de réfraction varie dans les gammes de longueurs d'onde visibles de 2,5 à 1,8. La bonne structure cubique obtenue pour les couches minces réalisées a permis de conclure que les films de ZnS préparés peuvent avoir une application comme couche tampon en remplacement du CdS nocif dans les cellules solaires à couches minces CIGS ou comme un revêtement antireflet dans les cellules solaires à base de silicium
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