Infrared Thermography As A Characterisation Tool Of Silicon Solar Cells
Résumé: Recently, independent research groups have developed camera based techniques to evaluate local silicon solar cells parameters. Among these techniques, Dark Lock-In Thermography DLIT is, conventionally, used to evaluate shunts and minority carrier lifetime, but, since few years DLIT is becoming a versatile technique capable to do full solar cell characterisation. Here, we apply a DLIT based method to evaluate solar cell local dark parameters. The method is completed by external evaluation of local series resistance from two electroluminescence images taken under different conditions.
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