Méthodes De Test D'une Famille De Micro-ordinateur
1985
Autre
Génie Eléctrique Et Eléctronique

École Nationale Polytechnique - Alger

B
Boutria, Mohamed
S
Soufi, Messaoud

Résumé: Dans ce travail on expose les spécificités du problème de test des circuits intégrés (LSI et VLSI) entrants dans la constitution des micro-ordinateurs. On donne par la suite quelques méthodes utilisées pour le test de ce type de circuit.

Mots-clès:

circuits intégrés
test
mémoires
test
microprocesseurs
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